wprowadź własne kryteria wyszukiwania książek: (jak szukać?)
Twój koszyk:   1 egz. / 149.00 141,55   zamówienie wysyłkowe >>>
Strona główna > opis książki
English version
Książki:

polskie
podział tematyczny
 
anglojęzyczne
podział tematyczny
 
Newsletter:

Zamów informacje o nowościach z wybranego tematu
 
Informacje:

o księgarni

koszty wysyłki

kontakt

Cookies na stronie

 
Szukasz podpowiedzi?
Nie znasz tytułu?
Pomożemy Ci, napisz!


Podaj adres e-mail:


możesz też zadzwonić
+48 512 994 090

METROLOGIA GEOMETRYCZNA POWIERZCHNI TECHNOLOGICZNYCH ZARYSY KSZTAŁTU FALISTOŚĆ MIKRO I NANOCHROPOWATOŚĆ


ADAMCZAK S.

wydawnictwo: PWN, 2023, wydanie I

cena netto: 149.00 Twoja cena  141,55 zł + 5% vat - dodaj do koszyka

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość


Przedstawiamy wyjątkową publikację – Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych czyli kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Misją autora Metrologii geometrycznej powierzchni technologicznych było przedstawienie najbardziej aktualnych treści dotyczących metrologii – dotyczy to w szczególności najnowszych dokumentów normalizacyjnych, najnowocześniejszych narzędzi dostępnych metrologom, a także wykorzystaniu udoskonalonej technologii czy oprogramowaniu.

W publikacji tej Czytelnik będzie mógł przeczytać m.in. o:

- skomputeryzowanych systemach pomiarowych,

- tolerancjach geometrycznych,

- zarysach walcowości, prostoliniowości, płaskości, kulistości

- ocenie falistości oraz mikro- i nanochropowatości powierzchni.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

436 stron, Format: 16.5x23.5cm, oprawa twarda

Po otrzymaniu zamówienia poinformujemy pocztą e-mail lub telefonicznie,
czy wybrany tytuł polskojęzyczny lub anglojęzyczny jest aktualnie na półce księgarni.

 
Wszelkie prawa zastrzeżone PROPRESS sp. z o.o. www.bankowa.pl 2000-2022