English version

• polskie
podział tematyczny
 
• anglojęzyczne
podział tematyczny
 
Newsletter:

• Zamów informacje o nowościach z wybranego tematu
 
Informacje:

• o księgarni

• koszty wysyłki

• kontakt

• Cookies na stronie

Środowisko LabVIEW w eksperymencie wspomaganym komputerowo + CD

W książce opisano graficzny sposób programowania w środowisku LabVIEW, znacznie ułatwiający tworzenie i uruchamianie programów oraz umożliwiający konstruowanie urządzeń wirtualnych.

Książka jest przeznaczona dla szerokiego grona studentów i specjalistów z różnych dziedzin nauki i techniki, takich jak fizyka, biologia, chemia, mechanika, elektronika, psychologia, telekomunikacja, biomedycyna, przemysł półprzewodników, którzy w swojej działalności wykorzystują systemy pomiarowe wspomagane komputerowo.

Przedmowa

1. Podstawy programowania w języku graficznym G - LabVIEW
1.1. Zintegrowane środowisko programowania - LabVIEW
1.2. Narzędzia do programowania w języku graficznym G
1.2.1. Okna do projektowania panelu sterowania i programowania graficznego - Panel & Diagram Windows
1.2.2. Narzędzia do projektowania panelu sterowania i programowania graficznego
1.2.2.1. Pole narzędzi - Tools Palette
1.2.2.2. Menu rozwijane z paska menu głównego - Pull-Down Menus
1.2.2.3. Pasek z przyciskami narzędziowymi w oknie panelu
1.2.2.4. Pasek z przyciskami narzędziowymi w oknie diagramu
1.2.2.5. Menu podręczne - Pop-Up Menus
1.2.3. Pole z grupami obiektów wejściowych i wyjściowych - Controls Palette
1.2.4. Pole z grupami obiektów funkcyjnych i procedurami - Functions Palette
1.2.5. Okno z wykazem błędów i ostrzeżeń - Error List
1.2.6. Okno do projektowania ikony - Edit Icon
1.2.7. Okno do projektowania wirtualnych elementów konstrukcyjnych - Edit Control
1.2.8. Polecenie utworzenia podprogramu - Create Sub VI
1.2.9. Okno do edycji paska menu głównego - Menu Editor
1.2.10. Okno pomocy - Help
1.2.11. Biblioteki z przykładami - Examples
1.3. Podstawowe obiekty wejściowe, wyjściowe i funkcyjne - Controls, Indicators and Functions
1.3.1. Operacj e wyboru
1.3.1.1. Konfigurowanie kontrolki numerycznej - Numeric Controls
1.3.1.2. Numeryczne obiekty funkcyjne - Numeric Functions
1.3.1.3. Struktura wyboru - Case
1.3.1.4. Tworzenie podprogramu SubVI - Create SubVl
1.3.1.5. Tworzenie biblioteki .LLB - New VI Library
1.3.2. Operacje w pętli z limitowaną liczbą iteracji
1.3.2.1. Przebiegi y(t) - Waveform Chart
1.3.2.2. Pętla z limitowaną liczbą iteracji - For Loop
1.3.2.3. Wykresy y(x) - Waveform Graph
1.3.2.4. Wykresy X-Y-XY Graph
1.3.2.5. Odmierzanie czasu i wprowadzanie opóźnień - Time & Dialog
1.3.2.6. Konfigurowanie wykresów - nastawy użytkownika
1.3.3. Operacje w pętli z uwarunkowaną liczbą iteracji
1.3.3.1. Pętla warunkowa - While Loop
1.3.3.2. Konfigurowanie aplikacji - VISetup
1.3.3.3. Tworzenie aplikacji ,EXE - Build Application
1.3.3.4. Kontrolki i operacje logiczne - Boolean Controls & Functions
1.3.3.5. Operacje porównania i selekcji - Comparison
1.3.4. Operacje z zastosowaniem rejestrów
1.3.4.1. Rejestr przesuwny - Shift Register
1.3.4.2. Opcja Reentrant Execution
1.3.5. Zmienne lokalne i globalne
1.3.5.1. Zmienne lokalne -Local Variables
1.3.5.2. Operacje z łańcuchami znaków - String
1.3.5.3. Zmienne globalne - Global Variables
1.3.5.4. Struktura hierarchiczna programu
1.3.6. Operacje wykonywane sekwencyjnie
1.3.6.1. Struktura sekwencyjna - Seąuence
1.3.6.2. Sterowanie przepływem danych - Data Flow
1.3.6.3. Atrybuty - Attribute Node
1.3.7. Struktura służąca edycji wzorów i równań
1.3.7.1. Struktura Formuła Node
1.3.7.2. Zapis wyrażeń algebraicznych
1.3.7.3. Zapis wyrażeń logicznych
1.3.8. Interfejsy - obsługa interfejsów w środowisku LabVIEW
1.3.8.1. Obiekty do obsługi urządzeń zewnętrznych - Instrument l/O
1.3.8.2. Obsługa interfejsu RS 232C w środowisku LabVlEW
1.3.8.3. Obsługa interfejsu Centronics w środowisku LabVIEW
1.3.8.4. Sterowniki urządzeń z interfejsem GP1B - Instrument Drivers

2. Modelowanie i symulacje komputerowe w środowisku LabVIEW
2.1. Karty pomiarowe w urządzeniach wirtualnych
2.1.1. Uogólniona struktura systemu pomiarowego
2.1.2. Struktury torów pomiarowych
2.1.3. Struktura karty pomiarowej
2.2. Przetwarzanie wielkości nieelektrycznych na sygnały elektryczne
2.2.1. Sygnały elektryczne - wiadomości podstawowe
2.2.1.1. Sygnały stosowane do testowania aparatury pomiarowej
2.2.1.2. Sygnały elektryczne jako nośniki informacji
2.2.1.3. Ogólna zasada próbkowania sygnałów
2.2.1.4. Możliwe zniekształcenia sygnałów
2.2.2. Pomiary wielkości nieelektrycznych
2.2.2.1. Przetworniki pomiarowe - czujniki
2.2.2.2. Detektory promieniowania elektromagnetycznego
2.2.2.3. Właściwości metrologiczne przetworników pomiarowych i detektorów promieniowania
2.3. Przetwarzanie, komutacja i transmisja sygnałów elektrycznych
2.3.1. Kondycjonowanie sygnałów elektrycznych
2.3.1.1. Wzmacnianie sygnałów elektrycznych
2.3.1.2. Tłumienie sygnałów elektrycznych
2.3.1.3. Kształtowanie analogowe sygnałów elektrycznych
2.3.2. Przełączenia w układach i systemach
2.3.2.1. Przełączniki
2.3.2.2. Komutacja sygnałów analogowych
2.3.2.3. Procesy przejściowe
2.3.3. Transmisja sygnałów elektrycznych
2.3.3.1. Przesyłanie sygnałów kablem koncentrycznym
2.3.3.2. Przesyłanie sygnałów skrętem parowym
2.4. Układy elektroniczne w dziedzinie czasu i w dziedzinie częstotliwości
2.4.1. Przechodzenie sygnałów elektrycznych przez układy
2.4.2. Układy w dziedzinie częstotliwości
2.4.2.1. Pasmo przenoszenia układu
2.4.2.2. Testowanie układów sygnałami sinusoidalnymi
2.4.3. Układy w dziedzinie czasu
2.4.3.1. Testowanie układów sygnałami prostokątnymi
2.4.4. Układy do pomiaru czasu, częstotliwości i fazy
2.4.4.1. Układy impulsowe do pomiaru czasu
2.4.4.2. Układy do pomiaru czasu z przetwarzaniem analogowym
2.4.4.3. Układy do pomiaru częstotliwości i fazy
2.5. Wybrane zagadnienia z techniki cyfrowej
2.5.1. Podstawowe operacje logiczne
2.5.2. Układy kombinacyjne
2.5.2.1. Podstawowe układy logiczne - bramki
2.5.2.2. Bramki o szczególnych właściwościach
2.5.2.3. Zastosowania układów kombinacyjnych
2.5.3. Minimalizacja układów logicznych
2.5.4. Układy sekwencyjne
2.5.4.1. Przerzutniki
2.5.4.2. Zastosowania układów sekwencyjnych
2.5.4.3. Sekwencyjne układy impulsowe

3. Metodyka projektowania urządzeń wirtualnych w środowisku LaVIEW
3.1. Założenia konstrukcyjne analizatora natężenia promieniowania jonizującego
3.2. Zasady tworzenia programu graficznego
3.2.1. Program główny
3.2.1.1. Program konfigurujący analizator
3.2.1.2. Program do komunikacji z kartą licznikową
3.2.1.3. Program do analizy danych pomiarowych
3.2.1.4. Program do umieszczania danych na wykresach
3.2.1.5. Komunikaty
3.2.2. Oprogramowanie wspomagające
3.2.3. Edycja paska menu
3.3. Budowa aplikacji

Dodatki
A. Wprowadzenie do standardu RS 232C
B. Wprowadzenie do standardu Centronics
C. Wprowadzenie do standardu GPIB
D. Wykaz akronimów angielskich i skrótów nazw
E. Instalacja oprogramowania w środowisku Windows

Wykaz aplikacji
Literatura
Skorowidz

338 stron, Format: 18.5x23.5cm, oprawa miękka + CD ROM